
応用情報技術者試験 令和7年度 春期 午前、全80問のうちの問54。
出典:令和7年度 春期 応用情報技術者試験 午前 問54(表は原本の画像を文字に書き起こした。領域分析の図は、領域ごとの範囲の表に書き起こした)
ある
| 品質指標 | 算出方法 | 基準値 |
|---|---|---|
| テスト密度 | テストケース数 | 20 |
| 欠陥密度 | 検出欠陥数 | 0.1(件/KLOC) |
| 領域 | テスト密度 | 欠陥密度 |
|---|---|---|
| 領域① | 16 より左 | 全ての範囲 |
| 領域② | 16 より右 | 0.12 より上 |
| 領域③ | 16 より右 | 0.08 と |
| 領域④ | 16 より右 | 0.08 より下 |
- ア欠陥密度は
基準を 満たしているが, システムの 品質に 問題が ないか, 欠陥の 妥当性を 確認する。 - イシステムの
欠陥が 多いので, 検出した 欠陥の 原因を 分析した上で, システムの 品質改善に 取り組む。 - ウシステムの
欠陥を 十分に 検出できていない 懸念が あるので, テストの 観点に 漏れが ないかなど, テストケースの 妥当性を 確認する。 - エテスト密度が
不足しているので, システムの 規模に 見合う テストケース数以上となるように, テストケースを 追加する。
答えと解説を開く
正解はウです。
まず基準の
ほかの選択肢が違う理由
- ア領域④の
欠陥密度は 0.08 より 下で、 基準の 80%以上 120%未満を 満たしていません。 基準を 満たしているという 評価は 誤りです。 - イ欠陥が
多すぎるのは、 欠陥密度が 0.12 より 上の 領域②です。 領域④は 欠陥が 少な すぎる所です。 - エテスト密度が
不足しているのは、 16 より 左の 領域①です。 領域④の テスト密度は 基準を 満たしています。
仕組み
テスト密度は、
欠陥が